PbS Kuantum Nokta İnce Filmlerin Üretilmesi ve Karakterizasyonu

Bu çalışmada, kurşun sülfür kuantum nokta (PbS QD) ince filmler dönel kaplama yöntemi kullanılarak soda-kireç silikat cam alttaşlar üzerine üretildi. Kuantum nokta ince film numunelerinin optik özelliklerini araştırmak için soğurma spektroskopisi ve fotolüminesans (PL) emisyon spektroskopisi yöntemleri kullanıldı. Spektroskopik yöntem sonuçları, üretilen ince filmlerin beklenildiği gibi optik olarak yakın kızılötesi bölgesinde (near-IR) aktif olduğu gösterdi. Üretilen kuantum nokta ince filmlerin yapısal özelliklerinin tayini için eş odaklı Raman spektroskopisi, atomik kuvvet mikroskobu (AFM) ve taramalı elektron mikroskobu (SEM) ölçümleri yapıldı. Raman spektroskopisi sonuçlarında, PbS yapısının enine optik modu (TO) ve boyuna optik modu (LO) gözlendi. Üretilen filmlerin AFM analizlerinden yüzey pürüzlülüğü 2.11 nm ve yüzeydeki partikül boyutlarının ortalama 0.5 nm ile 1.0 nm aralığında değiştiği hesaplandı. SEM görüntülerinden, üretim sonrasında metanol ile yıkama ve ısıl işlem yapılmamış numunelerin yüzeyinde organik bir katman ve yapıları içerisinde çok küçük deliklerin (pinhole) varlığı tespit edildi. Yıkama ve düşük başınç altında ısıl işlem yapılan numunelerin SEM görüntülerinde ise metanol yıkama ile organik tabakanın yapıdan uzaklaştığı ve düşük basınç altında ısıl işlem sonrasında çok küçük deliklerin kuantum noktalar tarafından kapatıldığı görüldü.